精密轮廓测量入门之选
测量和评估工件和工具上与功能相关的几何参数是研究、设计和工业的基本要求。相对其他方法，快速、简单而经济的 2D 轮廓测量系统受到越来越多的青睐。MarSurf XC 2 可满足精度和评估标准范围相关的各方面需求。同时，它还能提供安全而可靠的结果。
利用相关元件，更换基准元件后可立即对基准元件相关的参数重新计算。
密码保护用户访问权限，避免不当使用
以多年经验为基础的出色校准流程，包括几何形状校准、测量力校准、弯曲补偿等等
稳定、坚固的测头
平滑运行，稳定而准确的驱动装置
根据各种调整速度自动降低和抬高测杆
高定位精度
专利测杆固定技术，防碰撞保护
接触速度（Z 方向） |
0.1 至 1 mm/s |
测杆长度 |
175 mm, 350 mm |
测量速度（文本） |
0.2 mm/s 至 4 mm/s |
针尖半径 |
25 µm |
扫描长度末尾（X 方向） |
120 mm |
分辨率 |
Z 方向，相对探针针头：0.38 µm（350 mm 测杆）/ 0.19 µm（175 mm 测杆 在 Z 方向，相对于测量系统：0.04 µm |
扫描长度开始（X 方向） |
0.2 mm |
取样角 |
在平滑表面上，取决于偏差：后缘高至 88°，前缘高至 77° |
定位速度（文本） |
X 方向返回速度：0.2 至 8 mm/s Z 方向：0.2 至 10 mm/s |
导块偏差 |
< 1 µm（超过 120 mm） |
测量范围 mm |
（Z 方向）50 mm |
扫描长度（文本） |
0.2 mm 至 120 mm |
测量力 (N) |
1 mN 至 120 mN |
